Shenzhen Shinzo Technology Co., Ltd.-ek IC txip probatzeko ekipoen sorta berri bat erosten ari da, artikulu honetan erakusten den ekipoen irudiak probatzen ditu, ez dugu bakarrik bezeroentzako kontratazio zerbitzuen lan ona egin nahi, baina baita ere. eman gure bezeroei txipak berriak eta originalak direla ziurtatzeko.Gure helburua da elkarrekin lan egitea elkarren enpresen epe luzerako garapenerako!
IC Chip, Integrated Circuit Chip, osagai mikroelektroniko ugari (transistoreak, erresistentziak, kondentsadoreak, etab.) osatutako zirkuitu integratua oinarri plastiko batean jartzea da, txip bat egiteko.
Gaur egun, IC txiparen kalitateak garrantzi handia du produktu elektroniko guztietan, eta horrek zuzenean eragiten du produktu osoaren kalitatea merkatuaren ondoren.Beraz, kontratazio langileentzat, nola detektatu behar bezala IC txiparen kalitatea?Artikulu honek hainbat metodo aurkezten ditu laburki.
(TH2827C Doitasun LCR neurgailua)
1. Lineaz kanpoko detekzioa
Metodo hau IC zirkuituan soldatzen ez denean egiten da.Oro har, multimetroa erabil daiteke lurreko pinei dagozkien pinen arteko erresistentzia positiboa eta alderantzizko balioak neurtzeko, eta egoera onean dagoen IC-a alderatuko da.
(Biltegiratze digitala osziloskopioa)
2. Sareko detekzioa
(1) DC erresistentzia detektatzeko, lineaz kanpoko detekzio berdina
Hau zirkuituko IC pinen detekzio multimetro bat da (IC zirkuituan) DC erresistentzia, AC eta DC tentsioa lurrera eta lan-korronte osoa detektatzeko metodoa.
(2) DC lan-tentsioaren neurketa
Hau potentziaren kasuan, metro anitzeko DC tentsio bloke batekin DC hornidura tentsioa, lan tentsioaren neurketa osagai periferikoak da;Probatu IC pin bakoitzaren DC tentsioaren balioa lurrera, eta balio normalarekin alderatu, eta, ondoren, konprimitu matxuraren barrutia, kaltetutako osagaietatik kanpo.
Neurtzerakoan, arreta jarri zortzi puntu hauei:
① Multimetroak barne-erresistentzia nahikoa izan behar du, neurtutako zirkuituaren erresistentzia 10 aldiz baino gutxiago, neurketa-errore handirik ez sortzeko.
②Normalean potentziometroa erdiko posiziora, telebista bada, seinale-iturria kolore-barrako seinale-sorgailu estandarra erabiltzeko.
③Ikusi luma edo zunda irristatzearen aurkako neurriak hartzeko.Edozein berehalako zirkuitu laburrak IC kaltetzea erraza delako.Metodo hauek har daitezke boligrafoaren irristaketa saihesteko: hartu bizikleta bat balbula-nukleoa mahai-puntan ezarrita duena, eta mahai-punta luze bat 05 mm ingurukoa, mahai-punta proba-puntuarekin harreman ona izan dezakeena. eraginkortasunez saihestu irristatzea, nahiz eta ondoko puntua kolpatu ez zirkuitu laburtuko.
④ Pin baten tentsioa balio normalarekin koherentea ez denean, pin tentsioak ICren funtzionamendu arruntean eragin handia duen eta beste pin tentsio baten aldaketetan eragin handia duen aztertu behar da, horrela kalitatea epaitzeko. IC.
⑤IC pin tentsioa osagai periferikoek eragingo dute.Osagai periferikoak ihesak, zirkuitu laburrak, zirkuitu irekiak edo balio aldakorra gertatzen direnean, edo zirkuitu periferikoa erresistentzia aldakorreko potentziometro batera konektatzen denean, potentziometroaren beso lerragarriaren posizioa desberdina da, pin tentsio aldaketak egingo ditu.
⑥IC pin tentsioa normala bada, IC normalean normaltzat hartzen da;Pin tentsioaren IC zatia anormala bada, balio normalarekiko desbideratze maximotik hasi beharko litzateke, egiaztatu osagai periferikoek akatsik ez dutela, akatsik ez bada, IC kaltetuta egon daiteke.
⑦Harrera dinamikoko gailuetarako, hala nola telebistarako, seinalerik ez dagoenean, IC pin tentsioa desberdina da.Pin tentsioa ez dela aldatu behar, baina handia aldatu behar dela aurkitzen bada, seinalearen tamaina eta elementu erregulagarriaren posizio desberdinak aldatu baina aldatzen ez badira, IC kaltea zehaztu daiteke.
⑧Gailuen lan-modu ezberdinetarako, hala nola bideo-grabagailuetarako, lan-modu desberdinetan, IC pin tentsioa ere desberdina da.
(DC Elikadura Hornidura)
3. Ac lan-tentsioaren proba metodoa
ICren AC tentsioaren hurbilketa dB fitxategia duen multimetro batek neurtzen du.dB fitxategirik ez badago, boligrafoaren aurrean aho batean sar daiteke.1-0,5 "ko DC ahalmenaren isolamendua. Eredu hau funtzionamendu-maiztasun baxuagoak dituztenei aplikatzen zaie. Baina kontuan izan seinale hauek maiztasun naturalen menpe egongo direla eta uhin forma batetik bestera aldatuko direla. Beraz, neurtutako datuak gutxi gorabeherako balioa dira, erreferentziarako soilik. .
(Funtzioa/Uhin-forma arbitrarioaren sorgailua)
4. Korronte osoa neurtzeko metodoa
IC horniduraren korronte osoa neurtuz, ICren kalitatea epai dezakegu.IC barne DC akoplamenduaren gehiengoa dela eta, IC kalteak (adibidez, PN junturaren matxura edo zirkuitu irekia) eragingo du alderantzizko ataka eta mozketaren ondoren, korronte osoa aldatu dadin.Beraz, korronte osoa neurtzeak ICren kalitatea epai dezake.Korrontearen balioa begiztaren erresistentziaren tentsioa neurtuz kalkula daiteke.
(Sarrera)
Argitalpenaren ordua: 2023-03-17